聚焦闪存核心部件，浪潮存储重新定义SSD可靠性

企业级SSD作为数字信息时代的主要存储介质,技术水准要求相当苛刻,浪潮在核心部件SSD领域历经多年探索,研发和打磨,推出了NVMe SSD产品,已经在 互联网 ,通信, 金融 、政府、企业等关键领域实现规模部署,并得到了市场的检验和认可,浪潮自研SSD高可靠性的高端品质是 科技 创新与工匠精神的极致追求。

NAND Flash作为SSD的关键核心器件,成本占整体成本的比例高达80%以上,对NAND特性分析成为SSD产品可靠性的关键核心要素,获取输出精准的NAND验证参数对SSD的可靠性和性能至关重要。

MTBF(Mean time between failures,平均无故障时间)和UBER(Uncorrectable Bit Error Rate,不可修复的错误比特率)是SSD可靠性上最两个重要指标,分别对应RDT(Reliability Demonstration Test,可靠度验证测试)测试的Quarlity Test和Endurance Test,UBER主要验证NAND寿命和纠错能力,MTBF也包含纠错能力。纠错能力除NAND本身质量外,产品可靠性主要依赖于NAND纠错参数的准确性,而NAND特性验证基于NAND治具平台输出NAND参数供FW固件使用,参数中就包含纠错参数,同时也为SSD性能(主要是QoS)提供参数支持,比如纠错参数的成功率,Suspend相关参数功能等。

浪潮为获得产品的超高可靠性,面向SLC/MLC/TLC/QLC等闪存颗粒自主开发出了NAND Prober HX9000系列分析治具,可以提供介质特性分析、寿命检测、稳定性追踪的NAND特性测试项目,采用了行业领先的智能高温控制器和自主创新的P/E Block读写算法并行收集闪存介质的实时状态,支持NAND介质High Level指令集和Low Level指令集,图形化界面,全方位监测介质实时状态,通过开放的API(Application Programming Interface,应用程序接口)接口,为用户提供自定义的介质特性控制、监测和状态数据收集服务,设备购置和拥有成本有效的进行了降低。

敏捷开放,使测试更全更加精准

采用可灵活敏捷替换的NAND Socket槽,支持多个品牌和SLC/MLC/TLC/QLC多种类型NAND Flash存储颗粒。

命令与随机数支持更灵活,针对NAND介质特性同时支持高级指令(High level commands)和低级指令(Low level commands),可以自由按需扩展,动态生成匹配芯片的随机数,特性测试结果更精准。

特性收集API接口更开放,根据特性分析需求定向收集状态数据,上位机和下位机源码自主设计研发,全开放的API可以灵活收集状态数据和可借鉴的特性分析经验。

精准温控,保障品质

市面上NAND分析治具均存在传感器与NAND温度不相符的情况,导致不能精准对产品可靠性进行模拟评估。浪潮通过建立传感器温度与NAND温度对应表和动态调温成功解决了此问题,数显温度控制器智能设定NAND环境温度,针对NAND温控精细化需求定制温度控制器,实现智能设定、实时监控NAND Flash环境温度,更精准的评估SSD的可靠性。

       

数字显示           温控芯片

精益求精,可靠性提升30%

浪潮自研SSD通过NAND治具获取精准的状态数据并进行灵活的NAND特性算法分析,投入上千块SSD进行真实测评,全面的NAND参数掌握,创新的特性分析算法和丰富的产品化经验,提前规避整盘的设计风险,不断突破产品可靠性指标,使得平均无故障时间MTBF达到了260万小时,可靠性相比业内其他产品提升30%。

浪潮SSD产品开发或NAND Flash主控芯片研发中通过使用NAND Prober测试分析仪,提升了闪存主控芯片的设计、优化了性能、提升了介质寿命管控效率,有效提升主控芯片特性、优化SSD整盘性能和可靠性,同时可以用于存储介质的新特性和新材料研究,支撑对传统介质新特性和新介质新特性的测试、收集和分析,为未来产品的开发提供了重要参考。

未来浪潮存储将秉承“云存智用 运筹新数据”的存储理念,在存储基础领域不断下沉研发创新,掌握底层硬件关键核心技术,以领先技术助力关键行业全面释放数据价值,加速数字化转型。